- 기준카테고리 : AFM/SPM Probe
제품설명
상세정보
Product Description | |||
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- PPP-NCHR의 프로모션 제품으로 뛰어난 팀 첨단의 굴곡반경을 제공 - 높은 Q-Factor를 통한 High Sensitivity - 가장 일반적인 Non-Contact / True Non-Contact / Tapping 모드에 사용되는 Standard 프로브 - 실리콘 단결정 재질에 반사면 Al Coating으로 레이저 반사효율이 좋음 - 프로브 칩에 Groove가 있어 Alignment Chip과 함께 사용가능 - 장비 제작사별 마운팅 옵션 선택가능 - 사용가능 AFM/SPM 장비: AFMWorkShop A.P.E.Research Bruker / J.P.K / S.I.S-GmbH / Veeco / DI Hitachi / Seiko Keysight / Agilent / Pacific NanoTechnology / MI NanoFocus NanoInk Oxford / Asylum Park Systems / PSIA Probes 등. 모든 상용화 장비
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Coating Description | |||
- Al (알루미늄) 30nm 두께 반사면 코팅 | |||
AFM Tip | |||
Shape | Rotated | ||
Height | 12um (10-15um) | ||
Radius | < 7nm | ||
AFM Cantilever | |||
Shape | Beam | ||
Length | 125um (115-135um) | ||
Width | 30um (25-35um) | ||
Thickness | 4um (3-5um) | ||
Force Constant | 42N/m (20-75N/m) | ||
Resonance Frequency | 330kHz (204-409Hz) | ||
패킹 (Packing) & 마운팅 옵션 (Pre-mounted)
1. Unmounted Probe 패킹
2. Pre-mounted 옵션
3. Pre-mounted Probe 패킹