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- 기준카테고리 : AFM/SPM Probe
제품설명
상세정보
| Product Description | |||
|---|---|---|---|
| - 가장 일반적인 Contact mode, Lateral Force Microscope 모드에 사용되는 Standard 프로브 - 실리콘 단결정 재질에 반사면 Al Coating으로 레이저 반사효율이 좋음 - 프로브 칩에 Groove가 있어 Alignment Chip과 함께 사용가능 - 장비 제작사별 마운팅 옵션 선택가능 - 사용가능 AFM/SPM 장비: AFMWorkShop A.P.E.Research Bruker / J.P.K / S.I.S-GmbH / Veeco / DI Hitachi / Seiko Keysight / Agilent / Pacific NanoTechnology / MI NanoFocus NanoInk Oxford / Asylum Park Systems / PSIA Probes 등. 모든 상용화 장비
| |||
| Coating Description | |||
| - Al (알루미늄) 30nm 두께 반사면 코팅 | |||
| AFM Tip | |||
| Shape | Rotated | ||
| Height | 17um (15-19um) | ||
| Radius | < 7~10nm | ||
| Half Cone Angle | 20°-25° front view, 25°-30° from side, 10° at the apex | ||
| AFM Cantilever | |||
| Shape | Beam | ||
| Length | 450um (440-460um) | ||
| Width | 50um (45-55um) | ||
| Thickness | 2um (1-3um) | ||
| Force Constant | 0.2N/m (0.07-0.4N/m) | ||
| Resonance Frequency | 13kHz (9-17kHz) | ||
패킹 (Packing) & 마운팅 옵션 (Pre-mounted)
1. Unmounted Probe 패킹
2. Pre-mounted 옵션
3. Pre-mounted Probe 패킹
