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- 기준카테고리 : AFM/SPM Probe
제품설명
상세정보
| Product Description | |||
|---|---|---|---|
- 초고해상도 표면형상측정 프로브 - Non-Contact / True Non-Contact / Tapping 모드용 - 실리콘 팁 첨단에 싱글 카본 스파이크 팁 형성 - 캔틸레버 팁면과 반사면에 Au 코팅후 팁 끝단에 DLC (Diamond Like Carbon) 재질 Spike tip - 프로브 칩에 Groove가 있어 Alignment Chip과 함께 사용가능 - 장비 제작사별 마운팅 옵션 선택가능 - 사용가능 AFM/SPM 장비: AFMWorkShop A.P.E.Research Bruker / J.P.K / S.I.S-GmbH / Veeco / DI Hitachi / Seiko Keysight / Agilent / Pacific NanoTechnology / MI NanoFocus NanoInk Oxford / Asylum Park Systems / PSIA Probes 등. 모든 상용화 장비
| |||
| Coating Description | |||
- Au (골드) 70nm 두께 팁면, 반사면 코팅 후, 팁면 DLC Spike 성장 | |||
| AFM Tip | |||
| Shape | Rotated | ||
| Height | 17um (15-19um) | ||
| Spike Length | 100~200nm | ||
| Spike Radius | < 1nm | ||
| Half Cone Angle | 20°-25° front view, 25°-30° from side, 10° at the apex | ||
| AFM Cantilever | |||
| Shape | Beam | ||
| Length | 125um (115-135um) | ||
| Width | 30um (25-35um) | ||
| Thickness | 4um (3-5um) | ||
| Force Constant | 40N/m (20-75N/m) | ||
| Resonance Frequency | 300kHz (200-400kHz) | ||
패킹 (Packing) & 마운팅 옵션 (Pre-mounted)
1. Unmounted Probe 패킹
2. Pre-mounted 옵션
3. Pre-mounted Probe 패킹
